激光粒度(du)測量(liang)儀(yi)是壹種新(xin)興的粒度(du)測量(liang)儀(yi)器，它(ta)使用(yong)激光技術(shu)來(lai)測量(liang)物(wu)料的(de)粒度(du)，廣(guang)泛應(ying)用(yong)於(yu)工業生(sheng)產(chan)、環境(jing)監測和其(qi)他領(ling)域。激光粒度(du)測量(liang)儀(yi)具(ju)有測量(liang)精度(du)高、耗(hao)時短等優(you)點(dian)，為(wei)滿(man)足(zu)現(xian)代(dai)社會粒度(du)分析(xi)方面(mian)的(de)測量(liang)需(xu)求(qiu)提供了重(zhong)要(yao)參考(kao)。
激光粒度(du)測量(liang)儀(yi)基(ji)於(yu)激光散(san)射(she)，利(li)用(yong)光學(xue)測量(liang)技術(shu)對(dui)物(wu)體(ti)表(biao)面進(jin)行粒度(du)測量(liang)。具(ju)體來(lai)說，激光粒度(du)測量(liang)儀(yi)可以快(kuai)速測量(liang)出物(wu)料表(biao)面的(de)粒度(du)分布，從(cong)而使用(yong)戶可以了解到物(wu)料粒度(du)分布情(qing)況，更好(hao)地掌握(wo)工藝(yi)狀(zhuang)況。另(ling)外，激光粒度(du)測量(liang)儀(yi)的測量(liang)精度(du)較高(gao)，誤(wu)差只(zhi)有(you)幾百分之壹，可以滿足(zu)生(sheng)產(chan)制(zhi)造(zao)過程(cheng)中(zhong)對(dui)粒徑的要求(qiu)，彌補了傳統(tong)的(de)粒度(du)測量(liang)儀(yi)的缺點(dian)。
此(ci)外(wai)，諸(zhu)多(duo)生產制(zhi)造(zao)場合(he)對(dui)快(kuai)速準(zhun)確(que)的測量(liang)有(you)所要求(qiu)，而且(qie)由(you)於(yu)物(wu)料表(biao)面狀(zhuang)態壹般復(fu)雜(za)，激光粒度(du)測量(liang)儀(yi)更加(jia)考(kao)慮了物(wu)體(ti)復雜表(biao)面狀(zhuang)況，可以快(kuai)速準(zhun)確(que)地進(jin)行測量(liang)，將測量(liang)時間減少(shao)到較短，從(cong)而節(jie)省了人(ren)力和時間成(cheng)本(ben)。同時，激光粒度(du)測量(liang)儀(yi)的易(yi)用(yong)性(xing)強(qiang)，操(cao)作(zuo)非(fei)常(chang)簡便，無需進(jin)行復(fu)雜(za)的設(she)置和維護，較大(da)地提(ti)高(gao)了工作(zuo)效(xiao)率和便捷性(xing)。
總之，激光粒度(du)測量(liang)儀(yi)使用(yong)激光技術(shu)進(jin)行粒度(du)測量(liang)，其(qi)精度(du)高、耗(hao)時短、測量(liang)結(jie)果準(zhun)確、易(yi)操(cao)作(zuo)等(deng)特(te)點(dian)，使(shi)其(qi)得(de)到了廣(guang)泛的(de)應(ying)用(yong)。
激光粒度(du)測量(liang)儀(yi)的特(te)點(dian)：
測試(shi)範(fan)圍(wei)寬
由(you)於(yu)激光粒度(du)儀采用(yong)了大(da)尺寸光(guang)電探測陣(zhen)列(lie)(70個(ge)通(tong)道)、側(ce)向輔助(zhu)光電探測陣(zhen)列(lie)(12個(ge)通(tong)道)及其(qi)它相(xiang)應(ying)技術(shu)，使(shi)單透鏡(jing)測試(shi)範(fan)圍(wei)達到(dao)0.1---450微米；並且(qie)由(you)於(yu)本(ben)儀器(qi)使用(yong)過程(cheng)中無須更換鏡(jing)頭(tou)及(ji)調(tiao)整(zheng)光(guang)學(xue)系統(tong)，提(ti)高(gao)了系統(tong)的(de)穩(wen)定性(xing)，簡化(hua)了操(cao)作(zuo)過(guo)程(cheng)。
重(zhong)復(fu)性(xing)好
激光粒度(du)儀采用(yong)Furanhofer衍射(she)及(ji)Mie散(san)射(she)理(li)論,測試(shi)過(guo)程(cheng)不受(shou)溫度(du)變化(hua)、介質黏度(du),試(shi)樣密(mi)度(du)及表(biao)面狀(zhuang)態等(deng)諸(zhu)多(duo)因(yin)素的影(ying)響(xiang),只(zhi)要將待測樣品(pin)均勻(yun)地展(zhan)現(xian)於(yu)激光束中，即可獲得(de)準確(que)的測試(shi)結(jie)果(guo)。而且(qie)區(qu)別於(yu)沈(chen)降法,由(you)於(yu)不需要(yao)沈(chen)降過程，因(yin)此(ci)在壹次測試(shi)中(zhong)可以多次(ci)采樣(5-20次(ci)任(ren)意(yi)設(she)定)，有(you)效(xiao)的(de)濾(lv)除了由(you)於(yu)電噪聲，樣品(pin)分布不(bu)均等(deng)因(yin)素(su)造(zao)成(cheng)的影(ying)響(xiang)，使(shi)儀器的測試(shi)重(zhong)復(fu)性(xing)變好(hao)。
采用(yong)半導體激光發生(sheng)器(qi)
激光粒度(du)儀具(ju)有光(guang)參(can)數(shu)穩(wen)定、效(xiao)率高、壽(shou)命(ming)長(chang)、不(bu)怕(pa)振(zhen)動(dong)等(deng)壹系列(lie)優(you)點(dian)，克(ke)服了傳統(tong)氣(qi)體(ti)激光器(qi)由(you)於(yu)自(zi)然(ran)漏(lou)氣(qi)，需(xu)定期(qi)更換的缺點(dian)。
自(zi)動(dong)化(hua)程度(du)高操(cao)作(zuo)簡(jian)單(dan)
激光顆(ke)粒測量(liang)儀(yi)采用(yong)微機進(jin)行實時控制(zhi)，自(zi)動(dong)完(wan)成(cheng)數(shu)據采集、分析(xi)處理(li)、結果(guo)保存、打印等(deng)功能,操(cao)作(zuo)簡(jian)單(dan),自(zi)動(dong)化(hua)程度(du)高。
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