激(ji)光(guang)粒(li)度分(fen)析儀是(shi)如何(he)測(ce)試顆(ke)粒物粒(li)度大(da)小

原理(li)

1.*測量範圍米氏(shi)透(tou)射(she)基礎(chu)理(li)論HL系列(lie)激(ji)光(guang)粒(li)度分(fen)布采用*測(ce)量範圍米氏(shi)透(tou)射(she)基礎(chu)理(li)論，充分考慮(lv)了助懸(xuan)劑(ji)和待測顆粒(li)的(de)折(zhe)光率(lv)，融合(he)**的(de)檢測裝(zhuang)置(zhi)，依(yi)據(ju)大(da)小不壹的(de)顆粒(li)在各(ge)個(ge)角度上(shang)漫(man)射(she)光高(gao)的(de)轉(zhuan)變(bian)來反表(biao)演顆粒(li)群的粒度分(fen)布大(da)小粒(li)度分(fen)析規(gui)律(lv)性;

2.HL系列(lie)激(ji)光(guang)粒(li)度分(fen)析儀采(cai)用**的(de)過(guo)來(lai)人(ren)線性擬(ni)合逆(ni)變(bian)技(ji)術(shu)方(fang)式(shi)、頻帶(dai)變(bian)大(da)技(ji)術(shu)性(xing)，數(shu)據(ju)處(chu)理(li)方法(fa)後可(ke)以(yi)獲(huo)得(de)更(geng)加(jia)真(zhen)實(shi)的分(fen)布特(te)征(zheng)，針(zhen)對高等院(yuan)校、研(yan)究(jiu)室等科(ke)學合理(li)科(ke)研(yan)型顧客(ke)具備至(zhi)關重(zhong)要的(de)實(shi)際意(yi)義(yi);

3.HL納米技(ji)術(shu)激(ji)光(guang)粒(li)度分(fen)析儀采(cai)用企(qi)業(ye)****CR-128數據相關器(qi)。*內激(ji)光(guang)粒(li)度儀(yi)公(gong)司(si)，所(suo)有采(cai)用是(shi)指“靜態數據(ju)光(guang)散(san)射(she)基礎(chu)理(li)論"，此理(li)論測試的(de)高效(xiao)低限(xian)只有做(zuo)到(dao)50納米技(ji)術(shu)，針(zhen)對較(jiao)小的(de)顆(ke)粒(li)則束手(shou)無(wu)策。納米技(ji)術(shu)顆(ke)粒(li)檢(jian)測務必采(cai)用“動(dong)態光散(san)射(she)"技(ji)術(shu)性(xing)，而(er)實(shi)現此(ci)科(ke)技(ji)的(de)關鍵(jian)構(gou)件--相關器(qi)壹直由海外(wai)壟斷(duan)性(xing)，HL納米激(ji)光(guang)粒(li)度分(fen)析儀先(xian)打破了此(ci)項技(ji)術(shu)的(de)**壟斷(duan)，為(wei)*內填(tian)了技(ji)術(shu)空(kong)白(bai)，可(ke)測試0.3-3600um大(da)小的(de)顆(ke)粒(li)。

激(ji)光(guang)粒(li)度儀(yi)是基於(yu)光衍(yan)射(she)現象(xiang)設計(ji)的(de)，當(dang)光(guang)通過(guo)顆(ke)粒(li)時(shi)產(chan)生衍(yan)射(she)現象(xiang)（其本(ben)質是(shi)電(dian)磁波(bo)和物質的(de)相互(hu)作(zuo)用）。衍(yan)射(she)光的(de)角(jiao)度與(yu)顆粒的(de)大(da)小成(cheng)反(fan)比(bi)。

不同(tong)大(da)小的(de)顆(ke)粒(li)在通過(guo)激(ji)光(guang)光(guang)束時其衍(yan)射(she)光會落(luo)在(zai)不同(tong)的(de)位(wei)置(zhi)，位(wei)置(zhi)信(xin)息反(fan)映(ying)顆粒(li)大(da)小；同(tong)樣(yang)大(da)的(de)顆(ke)粒通(tong)過(guo)激(ji)光(guang)光(guang)束時其衍(yan)射(she)光會落(luo)在(zai)相同(tong)的(de)位(wei)置(zhi)。衍(yan)射(she)光強度的(de)信(xin)息反(fan)映(ying)出樣(yang)品中相同(tong)大(da)小的(de)顆(ke)粒(li)所(suo)占(zhan)的(de)百分比(bi)多少(shao)。

激(ji)光(guang)衍(yan)射(she)法(fa)就是(shi)采(cai)用壹(yi)系列(lie)的光(guang)敏檢測(ce)器(qi)來測(ce)量位(wei)置(zhi)粒(li)徑(jing)的顆(ke)粒在不同(tong)角(jiao)度上(shang)的(de)衍(yan)射(she)光的(de)強度，使用衍(yan)射(she)模(mo)型，通過(guo)數(shu)學(xue)反(fan)演(yan)，然後得(de)到(dao)樣品的粒度分(fen)布。

通過(guo)該(gai)位(wei)置(zhi)檢(jian)測(ce)器(qi)接(jie)收到(dao)的衍(yan)射(she)光強度，得(de)到(dao)所(suo)對應(ying)顆(ke)粒(li)粒(li)徑(jing)的百(bai)分比(bi)含(han)量。

顆粒衍(yan)射(she)光的(de)強度對角度的(de)依賴(lai)性是隨(sui)著(zhe)顆粒(li)粒徑(jing)的變(bian)小而(er)降(jiang)低，當(dang)顆(ke)粒小到(dao)幾(ji)百(bai)納米時(shi)，其衍(yan)射(she)光強對於角(jiao)度幾(ji)乎失去依賴(lai)性，即此時(shi)的(de)衍(yan)射(she)光會分(fen)布(bu)在很(hen)寬的(de)角(jiao)度範圍內，而(er)且單位(wei)面(mian)積(ji)上(shang)的(de)光強很(hen)弱，這(zhe)增(zeng)加(jia)了檢(jian)測的(de)難(nan)度。