淺(qian)談(tan)納米粒(li)度(du)及(ji)zeta電位(wei)儀(yi)原理(li)及(ji)功能認識

納米粒(li)度(du)及(ji)zeta粒度(du)儀(yi)是壹(yi)種用(yong)於(yu)測量納米(mi)材(cai)料電位(wei)和(he)粒度(du)分(fen)布的重要(yao)儀(yi)器(qi)。其原理(li)基(ji)於(yu)電(dian)泳(yong)或電(dian)滲(shen)原理(li)，通(tong)過(guo)測(ce)量納米(mi)顆粒在電場作用下的移動(dong)行(xing)為，

來獲(huo)得其(qi)電(dian)位(wei)和(he)粒度(du)信息。目(mu)前(qian)海(hai)鑫瑞科(ke)技(ji)的納米(mi)粒(li)度(du)及(ji)zeta粒度(du)儀(yi)不(bu)僅(jin)可以得(de)到(dao)粒(li)度(du)、電位(wei)的數(shu)據之外，還(hai)可以得(de)到(dao)分(fen)子(zi)量、溫度(du)/時間(jian)趨勢、以及(ji)隨(sui)

著(zhe)溶液(ye)PH的變化(hua)電(dian)位(wei)的變化(hua)數(shu)據等，壹(yi)機多用(yong)的科(ke)研(yan)好(hao)幫手(shou)

　　首先(xian)，讓我(wo)們(men)了解(jie)壹(yi)下粒度(du)測量原理(li)

納(na)米(mi)粒(li)度(du)及(ji)zeta粒度(du)儀(yi)則(ze)是基(ji)於(yu)光散(san)射(she)原理(li)進(jin)行(xing)測量。當壹(yi)束(shu)激光(guang)照射(she)在納米(mi)顆粒上(shang)時，光的散射(she)角(jiao)度(du)與顆粒的大(da)小(xiao)有(you)關(guan)。通過(guo)測量散射(she)角(jiao)度(du)，可以得(de)

到(dao)顆粒的粒度(du)分(fen)布情況。

   其(qi)次(ci)是電(dian)位(wei)測(ce)量原理(li)

　　在Zeta電位(wei)納(na)米(mi)粒(li)度(du)儀(yi)中，通常使用(yong)電泳光散(san)射(she)法(fa)來(lai)同(tong)時測量納米(mi)顆粒的電位(wei)和(he)粒度(du)。在電場作用下，通過(guo)測(ce)量納米(mi)顆粒的電泳(yong)速度(du)和(he)光散(san)射(she)強(qiang)度(du)，

可以推(tui)算出(chu)其電位(wei)值(zhi)和(he)粒度(du)分(fen)布。這種方法(fa)既(ji)具(ju)有(you)高靈敏(min)度(du)，又能夠(gou)快(kuai)速分(fen)析大(da)量樣本(ben)。

　　此外，Zeta電位(wei)納(na)米(mi)粒(li)度(du)儀(yi)還(hai)具(ju)有(you)非侵入性(xing)測量的優(you)勢，無需(xu)操作者(zhe)與(yu)樣品(pin)接觸，避免(mian)了汙染和(he)幹擾，確(que)保(bao)了測量結果(guo)的準(zhun)確(que)性和(he)可靠性(xing)。

　　總(zong)的來說(shuo)，納(na)米粒(li)度(du)及(ji)zeta粒度(du)儀(yi)的原理(li)是結(jie)合(he)電泳(yong)和(he)光散(san)射(she)技(ji)術，通過測(ce)量納米(mi)顆粒在電場作用下的運動(dong)行(xing)為和(he)光散(san)射(she)特(te)性，來獲(huo)得其(qi)電(dian)位(wei)和(he)粒度(du)

信息。這(zhe)種儀(yi)器(qi)在納米(mi)材(cai)料的研究和(he)開發(fa)中具(ju)有(you)重(zhong)要(yao)的應用(yong)價(jia)值(zhi)，為(wei)材(cai)料科(ke)學(xue)、環(huan)境保護(hu)和(he)生(sheng)物醫學(xue)等領(ling)域的研究提供(gong)了有(you)力(li)支(zhi)持。