400-189-8680
產(chan)品中(zhong)心(xin)
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簡要(yao)描述(shu)：Nano9200 系列(lie)多(duo)功(gong)能(neng)智能納米(mi)激光(guang)粒度儀(yi)用於(yu)測(ce)量顆粒粒度與(yu)Zeta電(dian)位(wei)。納米(mi)顆粒由(you)於粒徑(jing)十分細(xi)小，其(qi)表面(mian)的晶(jing)體結構(gou)發生(sheng)變化(hua)，從而在電學(xue)、光(guang)學(xue)和化(hua)學活(huo)性(xing)等方(fang)面(mian)表(biao)現出(chu)自身的性(xing)能(neng)。粒徑(jing)大小是表征(zheng)納米(mi)材料性(xing)能(neng)的(de)主(zhu)要(yao)參(can)數，準確(que)了解顆粒粒度是控制(zhi)納(na)米(mi)材料性(xing)能(neng)的(de)關鍵。Zeta 電位(wei)是表(biao)征(zheng)膠體分散(san)系穩定(ding)性(xing)的(de)關鍵參(can)數，Zeta電位(wei)越高(gao)，膠體就(jiu)越(yue)穩定(ding)，反(fan)之(zhi)，Zeta電(dian)位(wei)越低，膠體穩定(ding)性(xing)就(jiu)越(yue)差(cha).
產(chan)品型(xing)號(hao)：Nano9200SZ廠商(shang)性(xing)質：生(sheng)產(chan)廠家(jia)更(geng)新(xin)時(shi)間(jian)：2025-03-26訪 問 量(liang)：2766相(xiang)關文(wen)章
詳細(xi)介(jie)紹
| 品(pin)牌(pai) | 海(hai)鑫(xin)瑞(rui) | 測(ce)量時(shi)間(jian) | 10S秒 |
|---|---|---|---|
| 分辨率 | 0.0003微(wei)米(mi) | 測量(liang)範圍(wei) | 0.0003-15微米(mi) |
| 重(zhong)現性(xing) | 0.5 | 分散(san)方(fang)式(shi) | 濕(shi)法分散(san) |
| 價(jia)格(ge)區(qu)間(jian) | 面議(yi) | 儀(yi)器(qi)種(zhong)類 | 動(dong)態(tai)光(guang)散(san)射(she) |
| 產(chan)地(di)類別(bie) | 國(guo)產(chan) | 應用領域 | 醫療(liao)衛(wei)生(sheng),化工(gong),生(sheng)物產(chan)業,農林(lin)牧(mu)漁,制(zhi)藥(yao)/生(sheng)物制(zhi)藥(yao) |
多(duo)功能智能(neng)納(na)米(mi)激光(guang)粒度儀(yi)
第(di)壹(yi)：產(chan)品介(jie)紹：
Nano9200 系列(lie)多(duo)功(gong)能(neng)智能納米(mi)激光(guang)粒度儀(yi)用於(yu)測(ce)量顆粒粒度與(yu)Zeta電(dian)位(wei) 。納米(mi)顆粒由(you)於粒徑(jing)十分細(xi)小，其(qi)表面(mian)的晶(jing)體結構(gou)發生(sheng)變化(hua)，從而在電學(xue)、光(guang) 學(xue)和化(hua)學活(huo)性(xing)等方(fang)面(mian)表(biao)現出(chu)自身的性(xing)能(neng)。粒徑(jing)大小是表征(zheng)納米(mi)材料性(xing)能(neng)的(de)主(zhu)要(yao) 參(can)數，準確(que)了解顆粒粒度是控制(zhi)納(na)米(mi)材料性(xing)能(neng)的(de)關鍵。Zeta 電位(wei)是表(biao)征(zheng)膠體 分散(san)系穩定(ding)性(xing)的(de)關鍵參(can)數，Zeta電位(wei)越高(gao)，膠體就(jiu)越(yue)穩定(ding)，反(fan)之(zhi)，Zeta 電(dian)位(wei)越低，膠體穩定(ding)性(xing)就(jiu)越(yue)差(cha)，通(tong)過(guo)測(ce)量和調整(zheng)膠(jiao)體的(de)Zeta電(dian)位(wei)，就可(ke)以控 制(zhi)其(qi)穩定(ding)性(xing)。因(yin)此，Nano9200 系列(lie)納(na)米(mi)粒度及 Zeta 電(dian)位(wei)分析儀(yi)廣泛應(ying)用於(yu) 產(chan)品開發(fa)、生(sheng)產(chan)、質量控制(zhi)以(yi)及(ji)科(ke)學研究。
| 產(chan)品類別(bie) | |||
|---|---|---|---|
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|
| |
| 型(xing)號(hao) | Nano9200SZ | Nano9300SZ | Nano9400SZ |
| 技術類型(xing) | 采(cai)用經(jing)典(dian)動(dong)態(tai)光(guang)散(san)射(she)技(ji)術測量粒度 | 采(cai)用背(bei)向動(dong)態(tai)光(guang)散(san)射(she)技(ji)術 可以測(ce)量(liang)高(gao)濃度樣品(pin)的(de)粒度 | 采(cai)用多(duo)角(jiao)度動(dong)態(tai)光(guang)散(san)射(she)技(ji)術 提供(gong)更(geng)高(gao)分辨率的(de)粒度測量(liang)結果(guo) |
| 經(jing)典(dian)動(dong)態(tai)光(guang)散(san)射(she)（DLS） | √ | √ | |
| 背(bei)向動(dong)態(tai)光(guang)散(san)射(she)（BSDLS） | √ | √ | |
| 多(duo)角(jiao)度動(dong)態(tai)光(guang)散(san)射(she)（MADLS） | √ | ||
| 電(dian)泳光(guang)散(san)射(she)（ELS） | √ | √ | √ |
| 測(ce)量(liang)角(jiao)度 | 11°+90°(175°) | 11°+175° | 11°+90°+175° |
| 測量(liang)類型(xing) | |||
| 粒度 | √ | √ | √ |
| Zeta電位(wei) | √ | √ | √ |
| 分子(zi)量(liang) | √ | √ | √ |
| 溫度/時(shi)間(jian)趨(qu)勢 | √ | √ | √ |
| 粘度 | √ | √ | √ |
| 優勢(shi) | 使(shi)用單模(mo)保偏(pian)光(guang)纖替代(dai)分立(li)光(guang)路(lu)接(jie)收(shou)散(san)射(she)光(guang)， ·顯著(zhu)提(ti)高(gao)了光(guang)拍(pai)信號(hao)信噪(zao)比(bi)和抗幹(gan)擾能力(li) ·檢測(ce)側向90度角散(san)射(she)光(guang)以(yi)消(xiao)除(chu)雜(za)散(san)光(guang)的(de)幹(gan)擾 ·使(shi)用前(qian)向11度角測(ce)量(liang)Zeta電(dian)位(wei)，角度越小(xiao)Zeta ·電(dian)位(wei)分析分辨率越(yue)高(gao) | ·使(shi)用背(bei)向散(san)射(she)光(guang)路(lu)，減少(shao)多(duo)次散(san)射(she)光(guang)，可(ke)測 ·量(liang)樣品(pin)濃度範圍(wei)更(geng)寬(kuan) ·由於灰(hui)塵的(de)散(san)射(she)光(guang)集中(zhong)在前(qian)向散(san)射(she)區(qu)域(yu)，因(yin) ·此背向散(san)射(she)光(guang)路(lu)可以(yi)有效(xiao)降(jiang)低灰(hui)塵的(de)影響 ·背(bei)向散(san)射(she)體積較(jiao)大，能采(cai)集到更多的(de)散(san)射(she)光(guang)， ·因(yin)此測量(liang)靈敏(min)度更高(gao) | ·多角(jiao)度動(dong)態(tai)光(guang)散(san)射(she)(MADLS)技(ji)術，提供(gong)高(gao)分辨率 ·且(qie)與(yu)角(jiao)度無關的粒度測量(liang)結果(guo) ·可(ke)安(an)裝(zhuang)熒(ying)光(guang)濾光(guang)片以(yi)及垂直和水平偏(pian)振(zhen)片，用於(yu) ·消(xiao)除(chu)熒(ying)光(guang)，並(bing)進行去極化DLS測量 ·毛細(xi)管(guan)粒度樣品(pin)池(chi)，樣(yang)品量低至3µL，且(qie)由於光(guang) ·路(lu)短(duan)，減弱(ruo)多(duo)次散(san)射(she)光(guang)，顯著(zhu)提(ti)升(sheng)樣品濃度上(shang)限(xian)。 |
第(di)二(er)：產(chan)品原理
㈠顆(ke)粒度的測(ce)量(liang)
a、測(ce)量原理
當(dang)激(ji)光(guang)照(zhao)射到(dao)分散(san)於(yu)液(ye)體介(jie)質中(zhong)的(de)微(wei)小(xiao)顆粒時(shi)，由(you)於顆粒的(de)布朗運(yun)動(dong)引起(qi)散(san)射(she)光(guang)的(de)頻率(lv)偏(pian) 移(yi)，導致(zhi)散(san)射(she)光(guang)信(xin)號(hao)隨時(shi)間(jian)發生(sheng)動(dong)態(tai)變化(hua)，該變(bian)化(hua)的大小與(yu)顆(ke)粒的(de)布朗運(yun)動(dong)速度有關，而顆粒 的(de)布朗運(yun)動(dong)速度又(you)取決(jue)於(yu)顆(ke)粒粒徑(jing)的大小，顆粒大布朗運(yun)動(dong)速度慢，反(fan)之(zhi)顆(ke)粒小(xiao)布朗運(yun)動(dong)速度 快，因(yin)此動(dong)態(tai)光(guang)散(san)射(she)技(ji)術是分析樣(yang)品顆(ke)粒的(de)散(san)射(she)光(guang)強隨(sui)時(shi)間(jian)的漲(zhang)落(luo)規(gui)律(lv)，使(shi)用光(guang)子(zi)探(tan)測器(qi)在固(gu) 定(ding)的(de)角(jiao)度采(cai)集散(san)射(she)光(guang)，通(tong)過(guo)相(xiang)關器(qi)進行自(zi)相關運(yun)算(suan)得(de)到相關函數，再經過(guo)數學反(fan)演(yan)獲得(de)顆粒粒徑(jing)信息。
b、技術特點(dian)
⑴背散(san)射(she)光(guang)路(lu)：使(shi)用背(bei)散(san)射(she)光(guang)路(lu)接(jie)收(shou)散(san)射(she)光(guang)，減小(xiao)散(san)射(she)光(guang)程(cheng)，減弱(ruo)多(duo)次散(san)射(she)光(guang)，進而可以測量(liang)高(gao) 濃度樣品(pin)的(de)顆(ke)粒粒度
⑵大動(dong)態(tai)範圍(wei)高(gao)速光(guang)子(zi)相(xiang)關器(qi)：采(cai)用高(gao)速、低速通(tong)道(dao)搭(da)配(pei)的光(guang)子(zi)相(xiang)關器(qi)，有效(xiao)解決(jue)了(le)硬件(jian)資源(yuan)與(yu) 通(tong)道(dao)數量之間(jian)的矛盾，實(shi)時(shi)獲取(qu)動(dong)態(tai)範圍(wei)大、基線穩定(ding)的(de)相(xiang)關函數
⑶剔除(chu)灰(hui)塵幹(gan)擾：引入分位(wei)數檢測(ce)異常(chang)值的方(fang)法，鑒別(bie)受(shou)灰(hui)塵幹(gan)擾的散(san)射(she)光(guang)數據，並剔除(chu)異常(chang) 值，提高(gao)粒度測量(liang)結果(guo)的(de)準確(que)性(xing)
⑷多(duo)角(jiao)度數據反(fan)演(yan)：從多(duo)個(ge)不(bu)同的散(san)射(she)角(jiao)度采(cai)集散(san)射(she)光(guang)強，可(ke)以(yi)獲得(de)更多(duo)的(de)顆粒粒度信息，並將 多(duo)個(ge)自相關函數結合(he)到(dao)壹(yi)個(ge)數據分析中(zhong)，提(ti)供(gong)高(gao)分辨率且(qie)與(yu)角(jiao)度無關的粒度測量(liang)結果(guo)
⑸溫度趨(qu)勢分析：按(an)照設(she)定(ding)的(de)溫度範圍(wei)，自(zi)動(dong)進行粒度和Zeta電(dian)位(wei)測量(liang)，檢測(ce)樣品粒度或Zeta電(dian) 位(wei)的溫度趨(qu)勢
⑹超(chao)微量(liang)樣品(pin)池：超(chao)微量(liang)毛細(xi)管(guan)樣品(pin)池(chi)，樣(yang)品量低至3µL，且(qie)由於光(guang)程(cheng)短(duan)，可(ke)減弱(ruo)多(duo)次散(san)射(she)光(guang)， 能(neng)顯著(zhu)提(ti)升(sheng)樣品濃度上(shang)限(xian)
⑺標準化(hua)操(cao)作(zuo)(SOP)：軟件具有(you)標準化(hua)操(cao)作(zuo)功能，讓(rang)不(bu)同實(shi)驗(yan)室(shi)、不(bu)同實(shi)驗(yan)員間(jian)的測量(liang)按照(zhao)同壹(yi) 標準進行，測(ce)量結果(guo)更(geng)具可(ke)比(bi)性(xing)
⑻智(zhi)能(neng)化(hua)測(ce)量：自動(dong)調整(zheng)散(san)射(she)光(guang)強，自(zi)動(dong)優化(hua)光(guang)子(zi)相(xiang)關器(qi)參(can)數，自動(dong)設(she)置測(ce)量(liang)參(can)數，以適(shi)應(ying)不(bu)同 樣品(pin)，讓測(ce)量變得輕(qing)松愉(yu)快(kuai)
⑼法(fa)規(gui)軟(ruan)件(jian)：軟件(jian)符(fu)合FDA 21 CFR Part 11的(de)要(yao)求，可(ke)設(she)置/修(xiu)改(gai)用戶(hu)組(zu)的訪問權限(xian)，具有(you)電(dian)子(zi) 記錄/電子(zi)簽(qian)名和(he)審(shen)計跟蹤(zong)功(gong)能(neng)，符(fu)合制(zhi)藥(yao)企(qi)業的法(fa)規(gui)要(yao)求
c、智(zhi)能(neng)納米(mi)激光(guang)粒度儀(yi)樣品(pin)池類型(xing)
| 聚苯(ben)乙烯(xi)樣(yang)品(pin)池( HL0100) 用於(yu)測(ce)量粒度和分子(zi)量(liang) 適(shi)用於(yu)水性(xing)分散(san)劑(ji) 樣品(pin)量：0.8mL-2.0mL |
| 石英(ying)樣(yang)品(pin)池( HL0002) 用於(yu)測(ce)量粒度和分子(zi)量(liang) 兼(jian)容(rong)水性(xing)及(ji)非(fei)水性(xing)分散(san)劑(ji) 樣品(pin)量：0.8mL-2.0mL |
| 聚苯(ben)乙烯(xi)微(wei)量(liang)樣品池(chi)( HL0010) 用於(yu)測(ce)量粒度 適(shi)用於(yu)水性(xing)分散(san)劑(ji) 樣品(pin)量：50μL |
| 玻璃(li)樣品(pin)池( HL0002) 用於(yu)測(ce)量粒度和分子(zi)量(liang) 兼(jian)容(rong)水性(xing)及(ji)非(fei)水性(xing)分散(san)劑(ji) 樣品(pin)量：0.8mL-2.0mL |
| 毛細(xi)管(guan)超(chao)微量(liang)樣品(pin)池( HL0003) 用於(yu)測(ce)量粒度/僅適(shi)用於(yu)90度角測(ce)量(liang) 兼(jian)容(rong)水性(xing)及(ji)非(fei)水性(xing)分散(san)劑(ji) 最小樣品量：3μL |
d、納(na)米(mi)粒度應用範(fan)圍(wei)
| 納米(mi)材料 | 用於(yu)研(yan)究納米(mi)金(jin)屬氧(yang)化物(wu)、納米(mi)金(jin)屬粉(fen)、納米(mi) 陶(tao)瓷(ci)材(cai)料的粒度對材(cai)料性(xing)能(neng)的(de)影(ying)響。 |
| 生(sheng)物醫(yi)藥(yao) | 分析蛋(dan)白質、DNA、RNA、病毒(du)，以(yi)及(ji)各種(zhong)抗 原抗體的(de)粒度。 |
| 精細(xi)化工(gong) | 用於(yu)尋(xun)找納(na)米(mi)催化劑(ji)的最佳(jia)粒度分布(bu)，以降(jiang)低 化學(xue)反(fan)應(ying)溫度，提高(gao)反(fan)應(ying)速度。 |
| 油漆(qi)塗料 | 用於(yu)測(ce)量油漆、塗料、矽膠、聚合物(wu)膠(jiao)乳(ru)、顏 料、油墨、水/油乳(ru)液(ye)、調色劑(ji)、化妝(zhuang)品等材(cai)料 中(zhong)納(na)米(mi)顆粒物(wu)的粒徑(jing)。 |
| 食品(pin)藥(yao)品(pin) | 藥(yao)物(wu)表面包覆(fu)納(na)米(mi)微粒可(ke)使(shi)其(qi)緩慢(man)緩釋，並(bing)可(ke) 以(yi)制(zhi)成(cheng)靶向藥(yao)物(wu)，可用來測量包覆(fu)物(wu)粒度的大 小，以便(bian)更(geng)好地(di)發(fa)揮藥(yao)物(wu)的療(liao)效(xiao)。 |
| 航空(kong)航天 | 在火箭(jian)固(gu)體推進劑(ji)中(zhong)添(tian)加納(na)米(mi)金(jin)屬粉(fen)，可以顯 著(zhu)改(gai)進推進劑(ji)的燃燒(shao)性(xing)能(neng)，可(ke)用於(yu)研(yan)究金(jin)屬粉(fen) 的最佳(jia)粒度分布(bu)。 |
| 國(guo)防科(ke)技(ji) | 納米(mi)材料增加電(dian)磁能轉化為熱能(neng)的效(xiao)率，從而 制(zhi)成(cheng)電(dian)磁波(bo)吸(xi)波(bo)材(cai)料，提高(gao)對電(dian)磁波(bo)的(de)吸(xi)收(shou)性(xing) 能(neng)，不(bu)同粒徑(jing)納米(mi)材料具有(you)不(bu)同的光(guang)學(xue)特性(xing)， 可(ke)用於(yu)研(yan)究吸(xi)波(bo)材(cai)料的性(xing)能(neng)。 |
㈡：zeta電(dian)位(wei)的測(ce)量
a、測(ce)量原理
懸(xuan)浮在液體中(zhong)的(de)顆(ke)粒表(biao)面往往(wang)帶(dai)有電荷，帶(dai)電(dian)顆(ke)粒在電場(chang)力(li)作(zuo)用下(xia)向電(dian)極反(fan)方(fang)向做(zuo)電泳運(yun)動(dong)，單位(wei)電場(chang)強度下的(de)電(dian)泳速度定(ding)義(yi)為電泳遷(qian)移(yi)率(lv)。顆粒在電泳遷(qian)移(yi)時(shi)，會帶著緊密(mi)吸(xi)附層(ceng)和部分擴(kuo)散(san)層(ceng)壹(yi)起(qi)移(yi)動(dong)，與(yu)液(ye)體之(zhi)間(jian)形成滑動(dong)面，滑動(dong)面與(yu)液(ye)體內(nei)部的電(dian)位(wei)差即(ji)為 Zeta電位(wei)。Zeta電位(wei)是表(biao)征(zheng)分散(san)體系穩定(ding)性(xing)的(de)重(zhong)要(yao)指(zhi)標，Zeta電(dian)位(wei)越高(gao)，顆粒間(jian)的相互(hu)排(pai)斥力(li)越(yue)大，膠體體系越穩定(ding)，因(yin)此通(tong)過(guo)測(ce)量Zeta電位(wei)可以(yi)預測(ce)膠體的(de)穩定(ding)性(xing)。Zeta電(dian)位(wei)與(yu)電(dian)泳遷(qian)移(yi)率(lv)的關系遵(zun)循Henry方程，通(tong)過(guo)測(ce)量顆粒在電場(chang)中(zhong)的(de)電(dian)泳遷(qian)移(yi)率(lv)就能(neng) 計算(suan)出(chu)顆粒的(de)Zeta電位(wei)。電泳光(guang)散(san)射(she)(ELS)法(fa)通(tong)過(guo)測(ce)量散(san)射(she)光(guang)的(de)頻率(lv)偏(pian)移(yi)，來獲得(de)顆粒的(de)電泳 遷(qian)移(yi)率(lv)，進而確(que)定(ding)Zeta電(dian)位(wei)。而相位(wei)分析光(guang)散(san)射(she)(PALS)法(fa)則(ze)通(tong)過(guo)測(ce)量散(san)射(she)光(guang)信(xin)號(hao)的相(xiang)位(wei)變化(hua) 來獲得(de)顆粒的(de)電泳遷(qian)移(yi)率(lv)，分辨率比(bi)電泳光(guang)散(san)射(she)法(fa)高(gao)兩(liang)個(ge)數量級，從而提高(gao)了Zeta電(dian)位(wei)的測(ce) 量精度。
b、性(xing)能(neng)特(te)點(dian)
⑴全光(guang)纖光(guang)路(lu)：使(shi)用單模(mo)保偏(pian)光(guang)纖替代(dai)分立(li)光(guang)路(lu)，使(shi)參(can)考光(guang)和(he)散(san)射(she)光(guang)信(xin)號(hao)不再(zai)受灰(hui)塵和(he)雜(za)散(san)光(guang) 的(de)幹(gan)擾，提高(gao)了光(guang)拍(pai)信號(hao)的信(xin)噪(zao)比(bi)和抗幹(gan)擾能力(li)
⑵精確(que)函數表達式(shi)：基於(yu)雙電(dian)層理(li)論(lun)模(mo)型(xing)，求解顆粒的(de)雙電(dian)層厚(hou)度，獲得(de)準確(que)的顆粒半(ban)徑(jing)與(yu)雙 電(dian)層厚(hou)度的比(bi)值，再利(li)用最小二(er)乘(cheng)擬(ni)合算(suan)法(fa)獲得(de)精確(que)的Henry函數表達式(shi)，進而提高(gao)了Zeta電(dian) 位(wei)的計算(suan)精度
⑶U形毛(mao)細(xi)管(guan)樣品(pin)池(chi)：使(shi)用U形(xing)毛(mao)細(xi)管(guan)樣品(pin)池(chi)測(ce)量Zeta電位(wei)，由於(yu)樣品(pin)池底(di)部是水平的，從而使(shi) 得(de)電(dian)場(chang)強度比(bi)傳統(tong)的(de)毛(mao)細(xi)管(guan)樣品(pin)池(chi)更(geng)加均(jun)勻(yun)，減少(shao)測(ce)量誤差，進而提高(gao)了Zeta電(dian)位(wei)的測(ce)量精 度與(yu)重(zhong)復性(xing) 插(cha)入(ru)式(shi)平板(ban)電極：
⑷提供(gong)插(cha)入式(shi)平板(ban)電極用於(yu)測(ce)量水溶液(ye)或(huo)有機溶液(ye)中(zhong)樣(yang)品(pin)的(de)Zeta電位(wei)，平板(ban) 電極由耐(nai)腐(fu)蝕(shi)的(de)鉑(bo)金(jin)屬制(zhi)成(cheng)，清洗(xi)後(hou)可(ke)重(zhong)復使(shi)用。平(ping)板(ban)電極與(yu)塑(su)料或玻(bo)璃(li)樣品池(chi)配(pei)合使(shi)用， 方(fang)便(bian)快(kuai)捷(jie)
⑸相位(wei)分析光(guang)散(san)射(she)技(ji)術(PALS)：通(tong)過(guo)測(ce)量光(guang)拍(pai)信號(hao)的相(xiang)位(wei)變化(hua)來獲得(de)顆粒的(de)Zeta電位(wei)，測量(liang)分 辨率比(bi)電泳光(guang)散(san)射(she)法(fa)高(gao)兩(liang)個(ge)數量級
c、zeta電位(wei)儀(yi)樣品(pin)池類型(xing)
| U型(xing)毛(mao)細(xi)管(guan)樣品(pin)池(chi)( HL0090) 用於(yu)測(ce)量Zeta電位(wei) 適(shi)用於(yu)水性(xing)分散(san)劑(ji) 樣品(pin)量：0.7mL-0.9mL U形毛細(xi)管(guan)樣品(pin)池(chi)由(you)於樣品(pin)池底(di)部是水平結構(gou)，從而在 測量(liang)點(dian)附近(jin)獲得(de)比(bi)半圓(yuan)形(xing)毛(mao)細(xi)管(guan)樣品(pin)池(chi)更(geng)加均(jun)勻(yun)的電場， 進而提高(gao)了Zeta電(dian)位(wei)測量(liang)的重(zhong)復性(xing)與(yu)重(zhong)現性(xing)。 |
| “插入(ru)式(shi)"平板(ban)電極(DIP0770) 用於(yu)測(ce)量Zeta電位(wei)，需配(pei)合聚苯(ben)乙烯(xi)或(huo)玻(bo)璃樣品(pin)池 適(shi)用於(yu)水性(xing)或(huo)非(fei)水性(xing)分散(san)劑(ji) 樣品(pin)量：0.7mL-1.0mL |
d、zeta電位(wei)儀(yi)可選(xuan)配(pei)件
| 自動(dong)滴定(ding)儀(yi) 滴定(ding)儀(yi)需與(yu)主(zhu)機聯用，在測量(liang)過(guo)程(cheng)中(zhong)自(zi)動(dong)向樣(yang)品添(tian)加 壹(yi)定(ding)數量的酸、堿或(huo)鹽等添(tian)加劑(ji)，用於(yu)測(ce)量Zeta電 位(wei)時(shi)pH值的滴定(ding)，是(shi)等電(dian)點(dian)測(ce)量的良好(hao)選(xuan)擇(ze) |
| 粘度計 粘度計是獨(du)立(li)配(pei)件，用於(yu)測(ce)量分散(san)劑(ji)特別(bie)是(shi)復(fu)合(he)分散(san) 劑(ji)的粘(zhan)度 |
e、zeta電位(wei)應用領域
| 生(sheng)物制(zhi)藥(yao) ：可(ke)用於(yu)藥(yao)品(pin)和工(gong)業用乳(ru)膠(jiao)表面重(zhong)整(zheng)控制(zhi) |
| 表面(mian)活性(xing)劑(ji) ：用於(yu)表(biao)面活性(xing)劑(ji)功能(neng)分析與(yu)研(yan)究 |
| 造紙(zhi)行業： 研究(jiu)紙(zhi)漿(jiang)添(tian)加劑(ji)性(xing)能(neng)研(yan)究(jiu) |
| 聚合物(wu) ：用於(yu)電(dian)解聚合物(wu)功(gong)能研(yan)究 |
| 生(sheng)物領域 ：分析與(yu)研(yan)究蛋白質功能(neng) |
| 食品(pin)藥(yao)品(pin) ：用於(yu)食(shi)品、香水、藥(yao)品(pin)和化妝(zhuang)品等乳(ru)劑(ji) 的分散(san)和(he)凝聚控制(zhi) |
| 生(sheng)命(ming)科學(xue)： 應用於(yu)核(he)糖體分散(san)和(he)凝聚控制(zhi)研(yan)究(jiu) |
第(di)三(san)、軟(ruan)件(jian)控制(zhi)
㈠強大易用的(de)控制(zhi)軟(ruan)件(jian)
Nano9200系列(lie)納(na)米(mi)粒度及Zeta電(dian)位(wei)分析儀(yi)的控制(zhi)軟(ruan)件(jian)具有(you)納(na) 米(mi)顆粒粒度和Zeta電(dian)位(wei)等測(ce)量(liang)功(gong)能(neng)，壹(yi)鍵(jian)式(shi)測量(liang)，無需(xu)用戶(hu)幹(gan)預 ，自動(dong)調整(zheng)散(san)射(she)光(guang)強，自(zi)動(dong)優化(hua)光(guang)子(zi)相(xiang)關器(qi)參(can)數，以適(shi)應(ying)不(bu)同樣 品(pin)，讓測(ce)量變得輕(qing)松愉(yu)快(kuai)。控制(zhi)軟(ruan)件(jian)具有(you)標準化(hua)操(cao)作(zuo)(SOP)功能 ，讓(rang)不(bu)同實(shi)驗(yan)室(shi)，不(bu)同實(shi)驗(yan)員間(jian)的測量(liang)按照(zhao)同壹(yi)標準進行，測(ce) 量結果(guo)更(geng)具可(ke)比(bi)性(xing)。測(ce)量(liang)完(wan)成(cheng)自動(dong)生(sheng)成報表，以(yi)可(ke)視化的方(fang)式(shi)展 示(shi)測量(liang)結果(guo)，讓(rang)測(ce)量結果(guo)壹(yi)目(mu)了(le)然(ran)。
㈡剔除(chu)灰(hui)塵幹(gan)擾
如果樣品(pin)中(zhong)含(han)有(you)灰(hui)塵，則(ze)會使(shi)散(san)射(she)光(guang)強發(fa)生(sheng)躍(yue)變，導致(zhi)錯(cuo)誤 的測量結果(guo)。Nano9200使(shi)用分位(wei)數檢測(ce)異常(chang)值的方(fang)法，自(zi)適(shi)應(ying)改(gai) 變(bian)閾(yu)值，鑒別(bie)散(san)射(she)光(guang)數據中(zhong)的(de)“尖(jian)峰(feng)"，並剔除(chu)異常(chang)值。剔除(chu)灰(hui) 塵幹(gan)擾數據後，光(guang)子(zi)計數分布(bu)近似為正態(tai)分布(bu)，獲得(de)的光(guang)強自(zi)相(xiang) 關函數與(yu)平(ping)穩光(guang)強計算(suan)的(de)光(guang)強自(zi)相(xiang)關函數相吻(wen)合(he)，反(fan)演(yan)結果(guo)精度 在誤差允許範(fan)圍(wei)內(nei)。
自(zi)適(shi)應(ying)相(xiang)關函數截取
反(fan)演(yan)顆(ke)粒粒度分布(bu)時(shi)，需(xu)要(yao)對相(xiang)關函數進行截斷(duan)。固(gu)定(ding)點(dian)數法不考慮(lv)被(bei)測(ce)樣(yang)品(pin)顆粒的(de)大 小，截取相同點(dian)數的相關函數進行反(fan)演(yan)。固(gu)定(ding)閾(yu)值法(FACFT)設(she)定(ding)某閾(yu)值，在相關函數小於該 閾(yu)值的點(dian)截斷(duan)，但此方法(fa)無法(fa)依(yi)據(ju)相(xiang)關函數噪(zao)聲大小來調整(zheng)截斷(duan)點(dian)。 相(xiang)關函數均方根誤差閾(yu)值(RMSET)法根據被測(ce)顆(ke)粒大小截取相關函數，大顆粒取(qu)較(jiao)多相關 函數點(dian)，小(xiao)顆粒取(qu)較(jiao)少相關函數點(dian)，實(shi)現自(zi)適(shi)應(ying)相(xiang)關函數的截取。由測量(liang)結果(guo)可(ke)知(zhi)，RMSET 法反(fan)演(yan)的(de)顆(ke)粒粒徑(jing)波(bo)動(dong)性(xing)小(xiao)，重(zhong)復性(xing)好(hao)。
第(di)四：技術指(zhi)標
1、基(ji)本(ben)技(ji)術指(zhi)標
| 型(xing)號(hao) | Nano9200SZ | Nano9300SZ | Nano9400SZ | Nano9200S | Nano9200Z |
| 粒度 | |||||
| 測量(liang)角(jiao)度 | 11°+90°（175°） | 175° | 11°+90°+175° | 90° | -- |
| 粒度範圍(wei) | 0.3nm-15μm* | 0.3nm-10μm* | 0.3nm-15μm* | 0.3nm-15μm* | -- |
| 測(ce)量(liang)方法 | 動(dong)態(tai)光(guang)散(san)射(she)(DLS) | 背(bei)向動(dong)態(tai)光(guang)散(san)射(she)(BSDLS) | 多(duo)角(jiao)度動(dong)態(tai)光(guang)散(san)射(she)(MADLS) 背(bei)向動(dong)態(tai)光(guang)散(san)射(she)(BSDLS) 動(dong)態(tai)光(guang)散(san)射(she)(DLS) | 動(dong)態(tai)光(guang)散(san)射(she)(DLS) | -- |
| 反(fan)演(yan)算(suan)法(fa) | Cumulants,General model, CONTIN, NNLS自動(dong)選擇(ze)，無需用戶(hu)幹(gan)預 | ||||
| 最小樣品量 | 3μL* | 50μL* | 3μL* | 3μL* | -- |
| 最小樣品濃度 | 0.1mg/mL | 0.2mg/mL | 0.1mg/mL | 0.1mg/mL | -- |
| 最大樣品濃度 | 40%w/v* | 40%w/v* | 40%w/v* | 40%w/v* | -- |
| Zeta 電位(wei) | |||||
| 測量(liang)方法(fa) | 相位(wei)分析光(guang)散(san)射(she)(PALS) | 相(xiang)位(wei)分析光(guang)散(san)射(she)(PALS) | 相(xiang)位(wei)分析光(guang)散(san)射(she)(PALS) | -- | 相(xiang)位(wei)分析光(guang)散(san)射(she)(PALS) |
| 測(ce)量(liang)角(jiao)度 | 11° | 11° | 11° | -- | 11° |
| Zeta 電位(wei)範圍(wei) | 無實(shi)際限(xian)制(zhi) | 無(wu)實(shi)際限(xian)制(zhi) | 無(wu)實(shi)際限(xian)制(zhi) | -- | 無(wu)實(shi)際限(xian)制(zhi) |
| 電(dian)泳遷(qian)移(yi)率(lv)範圍(wei) | >±20μ·cm/V·s | >±20μ·cm/V·s | >±20μ·cm/V·s | -- | >±20μ·cm/V·s |
| 最大電導率(lv) | 270mS/cm | 270mS/cm | 270mS/cm | -- | 270mS/cm |
| 適(shi)合(he)測(ce)量(liang)的(de)粒徑(jing)範圍(wei) | 3nm~120μm* | 3nm~120μm* | 3nm~120μm* | -- | 3nm~120μm* |
| 分子(zi)量(liang) | |||||
| 測(ce)量方法(fa) | SLS及DLS | -- | SLS及(ji)DLS | SLS及DLS | -- |
| 分子(zi)量(liang)範(fan)圍 | 340Da ~ 20MDa | -- | 340Da ~ 20MDa | 340Da ~ 20MDa | -- |
| 粘度 | |||||
| 粘度範圍(wei) | 0.01cp-100cp* | 0.01cp-100cp* | 0.01cp-100cp* | 0.01cp-100cp* | 0.01cp-100cp* |
| 趨(qu)勢 | |||||
| 趨(qu)勢類型(xing) | 溫度和時(shi)間(jian) | 溫度和時(shi)間(jian) | 溫度和時(shi)間(jian) | 溫度和時(shi)間(jian) | 溫度和時(shi)間(jian) |
| 系統(tong) | |||||
| 激(ji)光(guang)器(qi) | 532nm高(gao)性(xing)能(neng)固(gu)體激(ji)光(guang)器(qi)，5 0mW | ||||
| 透(tou)射(she)率 | 0%-100%連續調(tiao)整(zheng) | ||||
| 檢測(ce)器(qi) | 高(gao)靈敏(min)度PMT或APD* | ||||
| 相(xiang)關器(qi) | 最小采(cai)樣時(shi)間(jian)25ns，動(dong)態(tai)範圍(wei)大於10 | ||||
| 溫度控制(zhi)範(fan)圍(wei)和(he)精度 | -10°C*~120°C*，±0.1°C | ||||
| 冷凝控制(zhi) | 幹(gan)燥空(kong)氣或氮(dan)氣吹掃 | ||||
| 工(gong)作(zuo)環境(jing) | 溫度+10°C~+35°C，相對(dui)濕(shi)度35%~80%，無冷(leng)凝 | ||||
| 計算(suan)機(ji)接(jie)口 | USB2.0或(huo)以(yi)上(shang) | ||||
| 電源(yuan) | AC100V~240V，50/60Hz，最大功率120W | ||||
| 尺寸和(he)重(zhong)量 | 580mm×365mm×195mm，16kg | ||||
| 計算(suan)機(ji)操(cao)作(zuo)系統(tong) | Windows 10/11 32/64位(wei)操(cao)作(zuo)系統(tong) | ||||
| 法(fa)規(gui)軟(ruan)件(jian) | 符(fu)合FDA 21 CFR Part 11的(de)要(yao)求，用戶(hu)可(ke)靈活設(she)置使(shi)用權限(xian) | ||||
| 軟件語言(yan) | 中(zhong)文(wen)和英(ying)文(wen) | ||||
2、可選配(pei)件指(zhi)標
| 可(ke)選配(pei)件 | 微(wei)量樣(yang)品池(chi) |
| APD | |
| 毛(mao)細(xi)管(guan)超(chao)微量(liang)樣品(pin)池 | |
| 插入式(shi)平板(ban)電極 | |
| 濾光(guang)片 | |
| 偏(pian)振(zhen)片 | |
| 滴定(ding)儀(yi) | |
| 法規(gui)軟(ruan)件(jian) | |
| 微流(liu)變軟(ruan)件 |
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關註(zhu)微(wei)信(xin)
