視(shi)“打(da)造(zao)國產(chan)穩(wen)定的激(ji)光(guang)粒度儀器”為己(ji)任(ren)，以科技創品牌、質(zhi)量闖市(shi)場(chang)、信譽贏(ying)天(tian)下(xia)為方針(zhen)，打造(zao)穩(wen)定、高(gao)性價(jia)比的國產(chan)激(ji)光(guang)粒度儀器。HL2020-Pluslink屬於科(ke)研(yan)型(xing)激(ji)光(guang)粒度分析儀，被應(ying)用到粉(fen)體行(xing)業(ye)，針(zhen)對不同(tong)行業(ye)設計了(le)不同(tong)模(mo)板(ban)，客戶可(ke)根據自(zi)己(ji)需要(yao)選(xuan)擇(ze)水泥(ni)模(mo)版(ban)、磨料(liao)模(mo)版(ban)等(deng)。

視(shi)“打(da)造(zao)國產(chan)穩(wen)定的激(ji)光(guang)粒度儀器”為己(ji)任(ren)，以科技創品牌、質(zhi)量闖市(shi)場(chang)、信譽贏(ying)天(tian)下(xia)為方針(zhen)，打造(zao)穩(wen)定、高(gao)性價(jia)比的國產(chan)激(ji)光(guang)粒度儀器。為滿足(zu)客戶對(dui)小型(xing)噴霧(wu)設備(bei)霧(wu)滴粒度測試(shi)的需(xu)求(qiu)，我(wo)公(gong)司設計壹款HL-spray便(bian)攜式噴霧(wu)激(ji)光(guang)粒度儀。

HL2020-Plus科研(yan)型(xing)幹(gan)濕(shi)兩(liang)用激(ji)光(guang)粒度儀是我(wo)公(gong)司在HL2020-B的基(ji)礎(chu)上(shang)傾(qing)力研(yan)發(fa)的新(xin)產(chan)品，自(zi)上(shang)市(shi)以來(lai)贏(ying)得(de)了(le)廣大(da)客戶的好(hao)評(ping)。HL2020-Plus采用通(tong)用的Mie氏(shi)散(san)射(she)原(yuan)理(li)。高(gao)密度探(tan)測器及全量程(cheng)無縫銜接測(ce)試(shi)方法(fa)，保證(zheng)了(le)測(ce)試(shi)結果(guo)的準(zhun)確(que)性和(he)重(zhong)復性。

視(shi)“打(da)造(zao)國產(chan)產(chan)穩(wen)定的激(ji)光(guang)粒度儀器”為己(ji)任(ren)，以科技創品牌、質(zhi)量闖市(shi)場(chang)、信譽贏(ying)天(tian)下(xia)為方針(zhen)，打造(zao)穩(wen)定、高(gao)性價(jia)比的*產(chan)激(ji)光(guang)粒度儀器。TW180-C分體式(shi)噴霧(wu)激(ji)光(guang)粒度分析儀是PS180系列噴霧(wu)粒度儀的換(huan)代(dai)產(chan)品，TW180-C整體(ti)結構(gou)可(ke)分可合，適用範圍寬泛。性能(neng)穩(wen)定、量程(cheng)大(da)、適應(ying)各(ge)種(zhong)復雜(za)的測(ce)試(shi)環境.

Nano9400SZ 系列納米粒度及zeta電(dian)位儀用於測(ce)量顆粒粒度與(yu)Zeta電(dian)位。納(na)米顆(ke)粒由於粒徑(jing)十(shi)分細(xi)小，其(qi)表(biao)面(mian)的晶(jing)體(ti)結(jie)構(gou)發(fa)生(sheng)變化，從(cong)而(er)在電(dian)學、光(guang)學和(he)化學(xue)活性等(deng)方面(mian)表(biao)現出(chu)自(zi)身(shen)的性能(neng)。粒徑(jing)大(da)小是(shi)表(biao)征(zheng)納米(mi)材(cai)料(liao)性能(neng)的主(zhu)要(yao)參(can)數，準確(que)了(le)解(jie)顆(ke)粒粒度是控(kong)制納(na)米材(cai)料(liao)性能(neng)的關鍵。Zeta 電(dian)位是(shi)表征(zheng)膠體分散(san)系(xi)穩(wen)定性的關鍵參數，Zeta電(dian)位越(yue)高(gao)，膠(jiao)體(ti)就越穩(wen)定，反之(zhi)，Zeta電(dian)位越(yue)低，膠體穩(wen)定性就(jiu)越(yue)差.

Nano9300SZ 系列納米粒度及zeta電(dian)位分析儀用於測(ce)量顆粒粒度與(yu)Zeta電(dian)位。納(na)米顆(ke)粒由於粒徑(jing)十(shi)分細(xi)小，其(qi)表(biao)面(mian)的晶(jing)體(ti)結(jie)構(gou)發(fa)生(sheng)變化，從(cong)而(er)在電(dian)學、光(guang)學和(he)化學(xue)活性等(deng)方面(mian)表(biao)現出(chu)自(zi)身(shen)的性能(neng)。粒徑(jing)大(da)小是(shi)表(biao)征(zheng)納米(mi)材(cai)料(liao)性能(neng)的主(zhu)要(yao)參(can)數，準確(que)了(le)解(jie)顆(ke)粒粒度是控(kong)制納(na)米材(cai)料(liao)性能(neng)的關鍵。Zeta 電(dian)位是(shi)表征(zheng)膠體分散(san)系(xi)穩(wen)定性的關鍵參數，Zeta電(dian)位越(yue)高(gao)，膠(jiao)體(ti)就越穩(wen)定，反之(zhi)，Zeta電(dian)位越(yue)低，膠體穩(wen)定性就(jiu)越(yue)差.