JT-2000系(xi)列(lie)比(bi)表(biao)面及(ji)孔隙(xi)率(lv)分析儀(yi)是壹款應(ying)用(yong)於介(jie)孔(kong)、大(da)孔(kong)納米(mi)材料(liao)的(de)單(dan)分(fen)析(xi)站(zhan)全(quan)自(zi)動(dong)物理吸附(fu)分(fen)析(xi)儀(yi)；比(bi)表(biao)面積(ji)及孔(kong)徑(jing)分(fen)析儀(yi)采用(yong)壹體化設(she)計(ji)，即脫(tuo)氣模(mo)塊(kuai)集成於(yu)儀(yi)器主(zhu)機上，為(wei)實(shi)驗室(shi)減(jian)少(shao)大(da)量(liang)空間；同時(shi)其脫氣模(mo)塊(kuai)和(he)分析(xi)模(mo)塊(kuai)又(you)相(xiang)互(hu)獨立(li)，具有獨立(li)的氣路系(xi)統(tong)、檢(jian)測系(xi)統(tong)和(he)真空系(xi)統(tong)，可(ke)以(yi)同(tong)時(shi)運(yun)行，互不(bu)影響(xiang)。