JT-2000系(xi)列(lie)比表(biao)面及孔隙率(lv)分析儀是壹款(kuan)應用於(yu)介(jie)孔、大孔納米(mi)材料的單分析站(zhan)全(quan)自(zi)動(dong)物(wu)理吸附(fu)分析儀；比表面積(ji)及孔徑(jing)分析儀采用壹體(ti)化(hua)設計(ji)，即脫氣模塊(kuai)集(ji)成於(yu)儀器主機(ji)上(shang)，為實(shi)驗室(shi)減少(shao)大量(liang)空間(jian)；同(tong)時其(qi)脫(tuo)氣模塊(kuai)和(he)分析模(mo)塊(kuai)又(you)相(xiang)互(hu)獨立，具(ju)有獨立的氣路系(xi)統(tong)、檢(jian)測系(xi)統(tong)和真(zhen)空系(xi)統(tong)，可(ke)以(yi)同(tong)時運(yun)行(xing)，互不(bu)影(ying)響(xiang)。

比表面積(ji)分析儀，采用Nelsen和Eggertsen提出的連續(xu)流(liu)動(dong)法(fa)（標(biao)樣(yang)比(bi)對法(fa)）作(zuo)為測定(ding)方法(fa)，在低溫液(ye)氮(dan)作(zuo)用下，氦(hai)氮混(hun)合(he)氣連續(xu)通(tong)入(ru)樣(yang)品管(guan)，混合(he)氣中的氮氣被樣(yang)品開(kai)始吸附(fu)至(zhi)飽和的過程出現(xian)吸(xi)附(fu)信(xin)號，然(ran)後(hou)脫(tuo)離液(ye)氮(dan)環境(jing)，在升(sheng)溫(wen)的過程中被吸附(fu)的氮氣開始脫附(fu)至(zhi)*脫附(fu)的過程中出現(xian)脫(tuo)附(fu)信(xin)號。

JT-2000系(xi)列(lie)比表(biao)面及孔徑(jing)分析儀是壹款(kuan)應用於(yu)介(jie)孔、大孔納米(mi)材料的單分析站(zhan)全(quan)自(zi)動(dong)物(wu)理吸附(fu)分析儀；比表面積(ji)及孔徑(jing)分析儀采用壹體(ti)化(hua)設計(ji)，即脫氣模塊(kuai)集(ji)成於(yu)儀器主機(ji)上(shang)，為實(shi)驗室(shi)減少(shao)大量(liang)空間(jian)；同(tong)時其(qi)脫(tuo)氣模塊(kuai)和(he)分析模(mo)塊(kuai)又(you)相(xiang)互(hu)獨立，具(ju)有獨立的氣路系(xi)統(tong)、檢(jian)測系(xi)統(tong)和真(zhen)空系(xi)統(tong)，可(ke)以(yi)同(tong)時運(yun)行(xing)，互不(bu)影(ying)響(xiang)。

BET比表面積(ji)儀采用Nelsen和Eggertsen提出的連續(xu)流(liu)動(dong)法(fa)（標(biao)樣(yang)比(bi)對法(fa)）作(zuo)為測定(ding)方法(fa)，在低溫液(ye)氮(dan)作(zuo)用下，氦(hai)氮混(hun)合(he)氣連續(xu)通(tong)入(ru)樣(yang)品管(guan)，混合(he)氣中的氮氣被樣(yang)品開(kai)始吸附(fu)至(zhi)飽和的過程出現(xian)吸(xi)附(fu)信(xin)號，然(ran)後(hou)脫(tuo)離液(ye)氮(dan)環境(jing)，在升(sheng)溫(wen)的過程中被吸附(fu)的氮氣開始脫附(fu)至(zhi)*脫附(fu)的過程中出現(xian)脫(tuo)附(fu)信(xin)號。